Tervetuloa sivuillemme!
(Kiina) YY820P työpöytäspektrofotometri
Tekniset tiedot
| Valaistus/katselujärjestelmä | Heijastus: d/8 (hajavalo, 8 asteen katselu)SCI/SCE:n samanaikainen mittaus (ISO7724/1, CIE No.15, ASTM E1164, ASTM-D1003-07, DIN5033 Teil7, JIS Z8722 Condition C -standardi) Läpäisykyky d/0 (hajavalo, 0 asteen katselu) |
| Anturi | Silicon Photodiode Array |
| Räsäysmenetelmä | Kovera ritilä |
| Pallon halkaisija | 152mm |
| Aallonpituus | 360-780nm |
| Aallonpituus Pitch | 10 nm |
| Puolikaistan leveys | 5 nm |
| HeijastusalueResoluutio | 0-200 %0,01 % |
| Valon lähde | Pulssi Xenon lamppu ja LED |
| UV-mittaus | Sisältää UV, 400 nm leikkaus, 420 nm leikkaus, 460 nm leikkaus |
| Mittausaika | SCI/SCE < 2sSCI+SCE < 4s |
| Mittausaukko | Heijastuskyky: XLAV Φ30mm, LAV 18mm, MAV Φ11mm, SAV Φ6mmLäpäisy: Φ25mm (Automaattinen aukon koon tunnistus) |
| Transmittanssin näytteen koko | Näytteen leveydelle ja korkeudelle ei ole rajoitusta, paksuus ≤50 mm |
| Toistettavuus | XLAV-spektrin heijastus/läpäisy: standardipoikkeama 0,1 %:n sisälläXLAV Kromaattisuusarvo: Standardipoikkeama ΔE*ab 0,015 * Kun valkoinen kalibrointilevy mitataan 30 x 5 sekunnin välein valkoisen kalibroinnin jälkeen |
| Välineiden välinen sopimus | XLAV ΔE*ab 0,15 (BCRA Series II, 12 laatan keskimitta, 23 ℃) |
| Valaisimet | A,C,D50,D55,D65,D75,F1,F2,F3,F4,F5,F6,F7,F8,F9,F10,F11,F12CWF,U30,DLF,NBF,TL83,TL84 |
| Kieli | englanti, venäjä, espanja, portugali, japani, thai, korea, saksa, ranska, puola, kiina (yksinkertainen ja perinteinen), |
| Näyttö | Heijastus- ja läpäisykäyrä/arvo, väriarvo, värieroarvot, hyväksyntä/hylätty, värisimulaatio, värin arviointi, sameus, nesteen kromaattisuusarvot, värien taipumus |
| Katselukulmat | 2° ja 10° |
| Väriavaruudet | L*a*b, L*C*h, Hunter Lab, Yxy, XYZ |
| Muut indeksit | WI (ASTM E313-00, ASTM E313-73, CIE/ISO, AATCC, Hunter, Taube Berger, Stensby)YI(ASTM D1925,ASTM E313-00,ASTM E313-73),Sävy(ASTM E313-00),Metamerismiindeksi milm, tahrankesto, värinkesto, ISO-kirkkaus, R457, A-tiheys, T-tiheys, E-tiheys, M-tiheys , APHA/Pt-Co/Hazen, Gardner, Saybolt, ASTM-väri, sameus, kokonaisläpäisykyky, opasiteetti, värin vahvuus |
| Väriero | ΔE*ab, ΔE*CH, ΔE*uv, ΔE*cmc, ΔE*94, ΔE*00, ΔE*ab(metsästäjä), 555 sävyn lajittelu |
| Tallennusmuisti | 8 GB U-levy tietojen tallentamiseen ja siirtoon |
| Näytön koko | 7 tuuman kosketusnäyttö |
| Tehoa | 12V/3A |
| Käyttölämpötila | 5-40 ℃ (40-104 F), suhteellinen kosteus 80 % (35 ℃) ei kondensaatiota |
| Varastointilämpötila | -20-45 ℃ (-4-113 F), suhteellinen kosteus 80 % (35 ℃) ei kondensaatiota |
| Tarvikkeet | Virtasovitin, USB-kaapeli, kiinnike läpäisyyn, U-levy (PC-ohjelmisto), musta kalibrointiontelo, valkoinen ja vihreä kalibrointilaatta, 0 % kalibrointilaatta (läpäisykyky), heijastustestin tuki, 30 mm, 18 mm, 11 mm ja 6 mm aukot, heijastusnäyte valaisin, lasikenno 40x10mm |
| Valinnaiset lisävarusteet | Lämmityskiinnike läpäisevyyttä varten, pystytuki ja pneumaattinen painin alaspäin suuntautuvaa mittausta varten, heijastuskiinnike pienikokoiselle näytteelle, heijastava lasikennotuki, korroosionkestävä suojalevy (ei irrotettava), näytteen pidike kuitua varten, kalvokiinnike, läpäisyteline pieneen aukkoon , vaunukotelo, eurooppalainen vakiopistoke, amerikkalainen vakiopistoke |
| Käyttöliittymä | USB, USB-B ja RS-232 |
| Instrumentin koko | 465x240x260mm |
| Paino | 10,8 kg |
| Muu toiminto | 1. Kamera mittausalueen katseluun;2. Tukee vaaka-, pysty- ja alaspäin suuntautuvaa mittausmenetelmää (tarvitaan lisävarusteita alaspäin suuntautuvan mittauksen tukemiseksi); 3. Automaattinen kosteuden ja lämpötilan kompensointitoiminto. |
Kirjoita viestisi tähän ja lähetä se meille
